面议
合肥科晶
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Si上镀Cu薄膜
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美洲
看了仪表元件/仪表材料/仪表工艺的用户又看了
产品名称： | |
技术参数： | 薄膜厚度：400nm highly oriented poly crystalline Cu <111> Si基底尺寸： dia4”x0.525mm Si参数：P型掺B， <100> ,单抛， 电阻率：1-20 ohm-cm 表面粗糙度： as grown , N/A
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产品规格： | dia 4 inch or 10x10mm
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标准包装： | 1000级超净室100级超净袋真空封装或者单片盒装 |
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