分子束外延沉积速率监测/控制系统
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Hiden

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XBS

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欧洲

  • 金牌
  • 第20年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

XBS三级滤过四极质谱(MBE Deposition Rate Monitoring / Control System),适于精确的MBE分析,其他气体分析和科学实验使用。Windows™ 界面的MASsoft软件通过RS232RS485 或以太网控制。

·离子源控制,用于软离子化和表观电势质谱
·灵敏度增强用于大质量数的传输,自动质量数范围列表

·一级过滤处增加射频,抗污染物能力增强
·内置UHV 兼容的水冷却罩

·灵敏度高,检测范围: 100% 5ppb

·质量数范围: 0~ 510amu
·长期稳定性: 24h以上,峰高变化小于±0.5%)
·交叉离子源,束接收角同轴的横断面呈 ±35°
·2mm 束接受孔,也可为特殊使用者配置
·分子束研究中,检测极限低至30 ions/s
·监测生长速率: 1? / min,或更低



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