Thick-900系列X射线荧光镀层测厚仪精谱仪器

【产品介绍】

    Thick-900系列X荧光镀层测厚仪采用X荧光分析技术，可以测定各种金属镀层的厚度，包括单层、双层、多层及合金镀层等，可以进行电镀液的成分浓度测定。它能检测出常见金属镀层厚度，无需样品预处理；分析时间短，仅为数十秒，即可分析出各金属镀层的厚度；分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm。

    我公司集中了国内最优秀的X荧光分析﹑电子技术等行业技术研究开发专家及生产技术人员，依靠先进科学研究，总结多年的现场应用实践经验，结合中国的特色，开发生产出的Thick-900系列X荧光镀层测厚仪具有快速、准确、简便、实用等优点，广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。

【详细说明】

仪器特点：

●．仪器外观选用独特的流线型设计，时尚雅致。

●．同时分析元素周期表中由硫(S)到铀（U）。 

●．可以分析最多5层镀层，一次可分析元素多达24种。

●．无需复杂的样品预处理过程，无损测试。 

●．检出限可达到2ppm。

●．分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm 。

●．采用美国原装、国际先进的探测器，能量分辨率高。

●．采用美国原装、国际先进的AMP，处理速度快，精度高，稳定可靠。 

●．X光管采用正高压激发，激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示。

●．采用彩色摄像头，准确观察拍摄样品。 

●．采用电动无极控制样品平台，可以进行X-Y-Z的移动，准确方便。

●．采用双激光对焦系统，准确定位测量位置。 

●．高度传感器。

●．保护传感器，有效保护探测器。

●．精确度高，稳定性好，故障率低。

●．辐射安全系统：隐蔽式设计、软件、硬件三重射线防护系统多层屏蔽保护，辐射安全性可靠。

●．WINDOWS XP 中文应用软件，独特先进的分析方法，完备强大的功能，操作简单，使用方便。

技术特性：

1． X-Y-Z样品平台移动装置

Thick-900系列X荧光镀层测厚仪的X-Y-Z样品平台采用电动移动装置，具有可容纳各种形状的镀层样品及电镀液体样品的超大样品室。使用简单方便。    

2. X射线管激发系统

激发系统采用独特的正置直角光学结构设计。高电压发生器：电压与电流采用软件自动数码控制及显示。最大功率50 W。电压0 -50 KV，电流0-1000uA。8小时稳定性≤0.05%。高效长寿命X光管：采用低功率﹑自然冷却﹑高寿命、国际先进水平的X光管，指标达到国际先进水平。最大功率50W，管压5-50KV ；管流电流0-1000uA。 

3．高分辨率的探测器系统

进口原装电制冷探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。最佳分辨率能达到149eV±5ev。

4．能谱仪电子学系统

原装进口前置放大器及放大器等信号处理器：适应高计数率，高抗干扰能力的一体化电子线路。模数转换器采用高精度的2048道。

5．计算机分析系统

高级名牌计算机；高分辨率彩色液晶显示器。 

高级激光打印机。

6．系统软件

国际领先的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、理论α系数法等多种经典分析方法，全面保证：单层、双层、多层、合金镀层测试数据的准确性。

7．电源   

AC 220V～240V、50Hz 。 

额定功率：350W，选配高精度参数稳压电源。 

8．仪器尺寸、重量

样品腔尺寸：498*360*158 mm（W*D*H）

主机外形尺寸：580*500*580 mm （W*D*H）

主机重量：约50KG。

技术应用: 

塑料制品工业镀层、电子材料镀层（接插件、半导体、线路板、电容器等）、钢铁材料镀层（铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等）、有色金属材料镀层（铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等）、其它各种镀层厚度的测量及成分分析。

1.铜上镀金单镀层厚度测量铁、铜等材料上镀金的金厚度测量是工业中常见的，利用Thick-900系列X荧光镀层测厚仪可以获得很的结果。

荧光厚度与已知厚度样品结果对比：

2.铜上镀镍再镀金的双镀层厚度测量铁、铜等材料上先镀镍再镀金的厚度测量也是工业中常见的，见下表：

3.仪器长期稳定性评定

单镀层Ni/Cu稳定性测定：连续测定20次，计算其标准偏差和相对标准偏差，均能达到很好的效果。

常见的Au/Ni样品测量谱图：