薄膜厚度均匀性测试仪
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¥3万 - 6万

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SYSTESTER

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薄膜厚度均匀性测试仪

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中国大陆

  • 银牌
  • 第11年
  • 生产商
  • 营业执照已审核
核心参数

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应用范围

适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

主要特点

1. 接触式测量原理

2. 德国测厚传感器

3. 工业 TFT 屏,触摸屏操作

4. 零导航深度的扁平化界面 UI,操作更加方便快捷

5. 真彩色液晶显示试验数据、结果

6. 手动、循环、预约定时多种测量模式

7. 测试过程全自动完成

8. 本机内置历史数据查询功能

9. 配置微型打印机,可自动打印单次、统计报告

10. 配置标准通信接口

11. 可支持 DSM 实验室数据管理系统,实现数据统一管理(选购)

技术指标

测量范围:0~2mm(标配)

             0~10mm(可选)

率:0.1μm

测量速度:1~25 次/min(可调)

头:薄膜:50mm2,17.5±1kPa(标配)

纸张:200mm2,50±1kPa(可选)

源:AC 220V 50Hz

外形尺寸:330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)

重:38kg

执行标准

GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

产品配置

标准配置:主机、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件

件:纸张测量头、自动进样装置、配套软件、通信电缆、标准量块、DSM 实验室数据管理系统


售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 电议

免费仪器保养: 电议

保内维修承诺: 质保期内免费更换零部件等

报修承诺: 电议

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