安东帕数字式自动折光仪

产品简介

仪器简介：

-  全球最高精度和准确度的折光指数仪 
-  全球唯一使用双快速帕尔帖（Peltier）半导体控温技术的折光仪 
-  独特的全光反射测量原理，不受样品颜色和浊度的干扰，准确稳定测定深色样品折光率 
-  LED光源，平均寿命100000小时。不需要任何耗材，免维护。

技术参数：

-  折光指数范围:1.30 - 1.72 nD 
-  精确度:1 x 10-6 nD 
-  准确度:4 x 10-5 nD 
-  波长:运用干涉滤片精确的调整为 589.3 nm±0.1 nm(钠D) 
-  内置Peltier 半导体恒温控制器，标准控温范围10-70℃，可选控温范围10-110℃，精度0.01 °C，控温准确度(±0.03 °C), 温度稳定性0.002℃。 
-  LED光源，平均寿命≥100000小时。 
-  独特的全光反射测量原理，不受样品颜色和浊度的干扰，准确稳定测定深色样品折光率。 
-  使用双快速帕尔帖（Peltier）半导体控温技术的折光仪。其中一个帕尔帖（Peltier）恒温控制样品的温度，另一个帕尔帖（Peltier）恒温控制光电测量系统温度恒定，使其不受测量与周围环境温度的影响。 
-  棱镜材质：YAG （用于激光发生器的钇铝石榴石），接近钻石硬度。 
-  根据不同应用，配置大量样品的流动进样装置（悬浮液样品专用组件）及固体样品专用组件. 
-  防水型不锈钢外壳，耐大多数化学品腐蚀。 
-  多种操作模式：PC 电脑操作或与Anton Paar 数字式密度仪联用操作均可。 
-  强大的延伸测量，如Brix，Glucose， Fructose，Invert Sugar，Salinity等21种测量方法。 
-  免维护

主要特点：

-  全球最高精度和准确度的折光指数仪 
-  全球唯一使用双快速帕尔帖（Peltier）半导体控温技术的折光仪 
-  独特的全光反射测量原理，不受样品颜色和浊度的干扰，准确稳定测定深色样品折光率 
-  LED光源，平均寿命100000小时。不需要任何耗材，免维护。