PSMPS 1nm 颗粒物粒径谱仪

——检测下限低至1.1nm

产品介绍

PSMPS纳米颗粒物粒径谱仪是一个纳米颗粒物粒径分析系统，该系统创新地将改进后的DMA（Differential Mobility Analyzer）差分粒子电迁移器和CPC（Condensation Particle Counters）凝结核粒子计数器与AIRMODUS PSM（Particle Size Magnifier）颗粒物粒径放大器结合起来，将检测粒径范围拓展至1.1nm。1~2nm范围内的颗粒物粒径分布，对于帮助我们研究和理解高动态过程的新颗粒物形成（NPF）的基本机制以及颗粒物的形成速率和成长速率至关重要。

改进后的DMA可以最大程度的减少颗粒物的扩散损失，尤其是对于细微颗粒物，极大地提高了DMA对于1nm~3nm颗粒物的可通过性。DMA对颗粒物进行粒径分类，PSM对颗粒物进行初级凝结增大，CPC凝结核粒子计数器对经过PSM凝结长大后颗粒物再次进行增大并计数。设备用于1.1nm~55nm粒径范围、100 ~ 10⁸P/cm³浓度范围内的纳米颗粒物计数和粒径分析。

工作原理

DMA对颗粒物进行粒径分类，PSM对颗粒物进行初级凝结增大，CPC凝结核粒子计数器对经过PSM凝结长大后颗粒物再次进行增大并计数。设备用于1.1nm~55nm粒径范围、100 ~ 10⁸P/cm³浓度范围内的纳米颗粒物计数和粒径分析。

产品特征

2  PSMPS系统将测量粒径拓展到1.1nm

2  紧凑的配置，多合一的结局方案

2  多种中和器可选

2  扫描、步进和单颗粒模式可供选择

2  监测软件操作简单，自动高效

2  可外接传感器输入所需参数，如温湿度等

2  适合用于各种纳米颗粒物应用，如：大气成核，纳米颗粒物生长、凝结与运输等。

使用PSMPS捕捉到的颗粒物形成的快速变化过程

技术参数