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GZ-LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美 A.S.T.M 标准而的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量,是半导体的常规测试项目之。本仪器灵敏度较,配备有红外光源,可测量包括集成电路硅单晶在内的各种类型硅单晶,以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。 | ||||||||||||||||||||||||
本仪器根据际通用方法频光电导衰退法的原理,由稳压电源、频源、检波放大器,特制的InGaAsp/InP红外光源及样品台共五份组成。采用印刷电路和频接插连接。整机结构紧凑、测量数据可靠。 | ||||||||||||||||||||||||
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