双折射偏光显微影象分析系统
双折射偏光显微影象分析系统

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Metripol

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欧洲

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核心参数

产地类别: 进口

仪器简介:
Metripol系统适用于各类著名品牌,如:Leica,Nikou,Olympus,Xeiss等偏光
显微镜,源于牛津大学的最新分析手段广泛应用于生物医学及材料科学研究领域。
Metripol技术与传统偏光显微镜不同,无需样品制备,固定及染色,不用转动样
本。快速定量分析样本的偏光显微影像。
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