x荧光光谱仪EDX8000
x荧光光谱仪EDX8000

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天瑞仪器

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EDX8000

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中国大陆

  • 钻石
  • 第21年
  • 生产商
  • 营业执照已审核
该产品已下架
核心参数
仪器简介:

用于RoHS检测和镀层检测。



技术参数:

技术指标
分析精度:0.05%
分析范围:1ppm-99.9%
测量元素:从硫至铀等75种元素
测量对象:粉末、固体、液体
分析电镀溶液中的金属离子浓度
可分析10层以上的镀层
测试镀层薄至0.005μm
步进小距离:0.01mm
测量时间:60-300s
工作温度:13-30℃
相对湿度:≤70%
重量:30kg
工作电压:AC110v/220v

配置
单样品腔
计算机、喷墨打印机
硅针半导体探测器
放大电路
高低压电源
X光管



主要特点:

高精密定位测量系统,用于RoHS检测和镀层检测
双激光定位系统,50至100倍物体放大
精确逐点测试被测对象,并给出完整的含量和镀层的平面分析图谱
独立对各个检测点的数据结果进行综合分析,并将结果显示出来

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