多功能闭环测量扫描探针显微镜

仪器简介：
操作模式 
大气环境中:
STM/ STS/ AFM (接触+ 非接触 + 半接触)/侧向力模式/ 相位成像/ 力调制模式/ 扩散电阻成像/ MFM/ EFM/ SCM/开尔文模式/ 粘滞力成像/ AFAM/ AFM 刻蚀: 力 (刮刻 + 动态挖刻), 电流 (局域阳极氧化), STM 
液体环境中:
AFM (接触+ 半接触)/ 侧向力模式/相位成像/力调制模式/粘滞力成像/ AFM 刻蚀 
    
应用领域：

新材料 
薄膜材料 
聚合物 
半导体 
生物样品 
可在大气中、气体和液体环境下用于任何需要原子级和分子级分辨率的应用领域，以及对加热过程中样品表面结构的变化进行现场检测。

技术参数：

参数                                  扫描方式

                           样品扫描式          针尖扫描式


样品尺寸               直径可达40x40x10 mm     可达100x100x20 mm 

                       用于液体槽直径可达     采用独立的测量头部

                        12x12x2 mm               则无限制


扫描器              3x3x2.6 um (±10%);     50x50x5 um (±10%);

                     10x10x4 um (±10%),   100x100x7 um (±10%);

                     50x50x5 um (±10%)    100x100x10 um (±10%)
 

扫描器最小            0.0004 nm;                0.006 nm;

步进量(DAC)           0.0011 nm;                 0.012 nm;

                      0.006 nm                  0.012 nm
 

SPM头部                AFM                           AFM

          STM: 30 pA-50 nA, RMS噪音：4 pA         剪切力模式

              (标准前置放大器);                 

            10 pA-5 nA, PMS 噪音1.5 pA 

              (低电流前置放大器)
 

光学观察系统


分辨率                                  1 um

数值孔径                                0.28

CCD                                  230x～2900x

水平视野　　　　　　　　　　　   　1.2 ～0.1 mm
 

XY样品定位　　　　　　　　　　　　   　 5x5 mm

定位精度　　　　　　　　　　　　　  　　 5 um 

加热　　　　　　　　　　　　　　　　  　130°C


震动隔离系统                      主动式:阻尼 (0.6-100 Hz),

                                  被动式:阻尼>100 Hz  

                           特殊的铸态金属罩提供电屏蔽和声学隔振

主要特点：
Solver PRO-M是一套功能强大、设计精良的科研型扫描探针显微镜，适用于绝大部分科研领域。众多的卓越特性使Solver PRO-M独一无二，如：功能强大的电子学控制系统、精确测量探针运动的能力、使用方便的光学观察系统等等。

Solver PRO-M使用新一代的电子学控制箱。该控制箱吸收了当代电子科技领域的众多优秀成果。一流的模块化结构、新颖的设计解决方案，以及来自世界上最著名半导体公司的电子学元器件，大大提升了仪器的性能。

特点

*工作频率最高达5MHz的Solver PRO-M新型控制箱，使得仪器可方便的使用高共振频率的悬臂，从而使成像质量更加完美。

*同时，这种高频信号的处理能力对实现超声原子力显微镜（AFAM）具有非常重要的意义。AFAM成像技术是NT-MDT公司独有的一种技术，它可以用来测量样品局域的硬度。

*新的控制箱还可以通过电容传感器构成闭环扫描控制，从而实现精确扫描。