梅特勒-托利多 XS分析天平
梅特勒-托利多 XS分析天平

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梅特勒托利多

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XS205DU

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欧洲

  • 银牌
  • 第14年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
该产品已下架
核心参数
XS分析天平
o  采用高精度高分辨率后置式传感器,满足用户高精度的称量需求;
o  全自动校准技术(FACT),温度漂移和时间触发的自动内置砝码校正和线性校正,获得精确称量结果;
o  变量程专利设计(DeltaRange)和双量程(DualRange)设计,满足不同样品的称量需求;
o  触摸屏技术(TouchScreen),方便天平称量菜单和参数设置;
o  网格秤盘(SmartGrid),获得快速、准确的称量结果;
o  易巧称量组建(ErgoClips),满足使用不同去皮容器的称量需求;
o  可移动、分离的显示控制终端,方便天平使用;
o  完全可拆卸、清洗的防风罩设计,实现快速清洁;
o  内置RS232通讯接口和一个可用于蓝牙、以太网、LocalCAN、RS232和PS/2通讯接口选件插槽,方便连接打印机、电脑等外围设备;
o  优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求;
o  具有基础称量、统计称量、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测定以及优化的动态称量等内置应用程序;
e-Loader II软件,实现天平软件的即时更新;
  XS205DU
  双量程
最大称量值 220g
最大称量值 精细量程 81g
可读性 0.1mg
可读性 精细量程 0.01mg

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