LBT-RDA-150表面污染仪

 LBT-RDA-150表面污染仪

技术指标

1．探测器：大面积半导体探测器与高灵敏度GM探测器；
2．测量显示范围：α计数率：1～2000cps；β计数率：1～5000cps；α、β可同时显示。环境γ剂量H*(10)测量显示范围：0.1mGy/h~12mGy/h；
2．待测表面至灵敏窗最小距离：4.2mm；
3. 待测表面至灵敏体积等效质量厚度：＜1.6mg/cm2;
4. 探头保护盖：储运时保护探头窗膜。因加有相应的屏蔽材料，可有效阻挡α、β射线，对γ测量有良好的能量响应补偿作用。在β/γ射线的混合场内，对90Sr-90Yβ射线的遮挡率为97%；而在距241Am源45cm处，γ射线的透过率为70%。
5. α本底：＜5cpm;
6. β本底：≤400cpm（外环境γ辐射<0.25mGy/h）;
7. α探测效率：≥35%（241Am或239Pu ，2π方向， 150cm2源距窗表面4.2mm）;
8. β探测效率：≥60%（204Tl或90Sr-90Y ， 2π方向， 150cm2源）；≥40%（14C， 2π方向， 150cm2源）;
9.  相对固有误差：≤±20%;
10. 定时：有1s、10s、60s、∞四档;
11. 工作环境特性：温度0℃～45℃;
12. 重量：1.6kg; 尺寸：（长）22.5cm×（宽）11.8 cm×（高）16.3cm（包括手柄）。

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