LED芯片及LED小光源近场测试系统
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SIG 系列

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美洲

  • 白金
  • 第16年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

    SIG 系列分布式光度计,可以直接得到LED 等光源的近场光线数据Ray DATA,从而通过权重法超高精度模拟不同距离下的远场数据,测试数据可以直接导入Zemax、LightTool、TracePro 等光学设计软件;可以了解你芯片的发光特点,改进封装设计工艺,提高出光效率;对于LED 应用,无需再为LED 光学模型重建而苦恼;让你轻松实现业界领先的光学设计;

 
        SIG400光源近场分布测试系统
  • 光栅光谱仪基础知识 锁相放大器基础知识 光源基础知识 影像校正光谱仪基础知识 探测器基础知识 CCD基础知识

    14761MB 2013-03-28
  • 符合测量精确及LED生产高速测试需求,整合了MegaLED-SGM 荧光材料析系统是专业LED 光色测量设备,非破坏性检测,可直接组件成品荧光特性分析,独立荧光胶色彩定量分析,荧光胶体浓度变化定量分析。

    4102MB 2010-06-10
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色差仪SIG 系列的工作原理介绍

色差仪SIG 系列的使用方法?

SIG 系列多少钱一台?

色差仪SIG 系列可以检测什么?

色差仪SIG 系列使用的注意事项?

SIG 系列的说明书有吗?

色差仪SIG 系列的操作规程有吗?

色差仪SIG 系列报价含票含运吗?

SIG 系列有现货吗?

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