表面测量仪器与系统MarSurf S2
表面测量仪器与系统MarSurf S2

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Mahr

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MarSurf S2

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欧洲

  • 金牌
  • 第19年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
该产品已下架
核心参数
表面测量仪器与系统MarSurf S2
依照现行标准可实现粗糙度和波度测量
重量轻(不包括内置充电电池)
高分辨率的图形显示,可清晰显示测量结果和轮廓
基于自动测量原理和多测量元素,使得操作简单
通过内置热敏打印机,快速打印测量记录
 
用途广泛和简单应用的软件功能,例如:
自动设置标准滤波器和扫描长度功能
校准和维护周期监察功能
弧线滤除功能
动态和静态校准程序
多达41种评定参数,按照DIN EN ISO,JIS,ASME,MOTIF,R,W,P和D轮廓及特性曲线,并可设定MRC/ADC不同比例缩放
滤波器和扫描长度可选
公差监控,以声音和图标提示
密码保护功能,防止错误的设置和修改
内置统计功能
独立功能按键
简易呼出和打印测量记录及各种功能
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