仪器简介：
XM—2磨擦系数测定仪
用于测量塑料薄膜、薄片的动、静摩擦系数。
测力范围：0~2N；
试样厚度：0~0.2mm；
滑块尺寸：63X63X6；
滑块质量：200±2g；
工作台尺寸：200X400；
工作台运动速度：100±10mm/min
适用标准：GB10006及ISO8295
技术参数：
XM—2磨擦系数测定仪
用于测量塑料薄膜、薄片的动、静摩擦系数。
测力范围：0~2N；
试样厚度：0~0.2mm；
滑块尺寸：63X63X6；
滑块质量：200±2g；
工作台尺寸：200X400；
工作台运动速度：100±10mm/min
适用标准：GB10006及ISO8295
主要特点：
XM—2磨擦系数测定仪
用于测量塑料薄膜、薄片的动、静摩擦系数。
测力范围：0~2N；
试样厚度：0~0.2mm；
滑块尺寸：63X63X6；
滑块质量：200±2g；
工作台尺寸：200X400；
工作台运动速度：100±10mm/min
适用标准：GB10006及ISO8295
