产地类别： 进口
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Digital Holographic Microscopy Reflection
The 3D Real-Time optical topography
The all new Dynamic Measure
In-plane(XY轴) Out-of-plane(Z轴)实时监测定量变化
无需扫描 / 非破坏性测量 / 不需防震桌
快速缝合 (Stitching)
大样品测量及定量
表面形貌 / 粗糙度 / 曲率半径 …等
0.2 nm ～ 15 μm 台阶可一次性定量
可直接测量真空腔或玻璃盖内样品
25 MHz 实时动态 2D 数据
3D 图像定量 闪频 / 微探针 / 磁场 / 电场 …等模块扩充
MEMS / MOEMS / 微镜片 / 微显示组件…技术开发
