超构透镜光学检测系统
超构透镜光学检测系统

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MetronLens

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中国大陆

  • 银牌
  • 第13年
  • 生产商
  • 营业执照已审核
核心参数

产地类别: 国产

  • 外形尺寸: 主机650×720×700mm³
  • 焦距测量范围: 0~22mm
  • 光场扫描精度: 精度 ≤ 1 μm

MetronLens,超构透镜光学检测系统

“光场 + 相位 + 远场” / 全面表征 / 简单易用


        MetronLens 超构透镜光学检测系统 是一款面向超构透镜、超构表面、微透镜阵列等平面光学元件的专用光学检测系统。 该系统综合了显微成像技术、离轴数字全息技术以及远场成像技术等多种先进技术,可实现光场分布、相位分布和远场分布的原位检测,深刻揭示超构表面、超构透镜、微透镜阵列等平面光学元件的内在物理特性,为验证设计的准确性、制备加工工艺的优化提供了强有力的检测工具。

MetronLens产品图.png

MetronLens 超构透镜光学检测系统


典型应用领域:

 超构表面(Metasurface)   是一种由亚波长的微纳结构组成的平面结构,可以高自由度的对光波进行调控和操纵,因此超构表面的研究需要测量它所调控的光场分布和相位分布。

 微透镜阵列(Microlens Array,MLA)   是由尺寸只有几十微米和数百微米的微型透镜构成的阵列,因此微透镜阵列的研究需要微米尺度的单透镜检测能力。

 衍射光学元件(Diffractive Optical Elements, DOE)   是基于光的衍射效应而设计的光学元件,核心是对光的相位进行调制,需要高分辨率的相位测量。      


MetronLens 超构透镜光学检测系统 在以上领域的应用得益于如下几个创新点

1  毫秒级相位检测:MetronLens 基于“微型透镜检测系统及其检测方法”发明专利和离轴外差干涉技术,在显微体系下实现了毫秒级相位分布检测,相位分辨率可达 50mrad; 

2  高空间分辨率采用优异光学设计,结合大NA(大于 0.75)高倍率的成像系统和高像素数探测器,确保大视场下空间分辨率可达 0.6μm;

3  高精度 z 轴扫描配有三轴全闭环超高精度电控位移台,能够轻松实现 0~22mm 行程的光场扫描,z轴扫描定位精度最小可达到 ±1μm; 

4  多波长测试光源系统内部最多可集成 457nm、532nm、660nm 三种连续激光光源,可满足多样化的波段测试需求,并支持其他光源外部扩展。


注:以上参数如有差异,以官网为准。

相关方案

  • ARMS 在超透镜研究中的应用。当前,超透镜(Metalens)是超表面(Metasurface)领域的研究热点之一。相比于传统透镜,超透镜既提供了基于相位的全新设计手段,又支持了基于半导体平面加工的制备工艺,从而完全兼容微电子产业(图1)。由于这些优点,超透镜技术的发展将能够促进新型检测技术的突破,并在智能终端平台实现广泛的应用。

    其他 2020-03-18

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    其他 2020-03-18

售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 1人次培训

免费仪器保养: 1年1次

保内维修承诺: 可以

报修承诺: 24小时内回应

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超构透镜光学检测系统信息由上海复享光学股份有限公司为您提供,如您想了解更多关于超构透镜光学检测系统报价、型号、参数等信息,复享光学客服电话:400-860-5168转2332,欢迎来电或留言咨询。
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