GE Nanotom s奈米焦点高分辨率CT系统
GE Nanotom s奈米焦点高分辨率CT系统

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Sievers/威立雅

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Nanotom s

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美洲

  • 银牌
  • 第13年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
该产品已下架
核心参数

主要特色:

  • 180 kV/ 15 Wnanfocus CT®系统,拥有长久耐用的开放式X射线管,只需要少量的维护即可。

  • 高精度-空气轴承旋转装置提供了高精准的CT扫描影像

  • 通过菱形或窗口(可选择)以同样的高分辨率影像水平进行快达2倍的资料采集

  • 基於花岗岩的操作和可选择性的热安定性,提供最高的精密度及高稳定性

  • 可於1小时之内自动生成第一件检测记录

  • 提供从亚um到高强度应用模式的4种操作模组

  • 使用极佳的软体模组以确保最高的CT影像质量且易於使用,例如:

        ▲ 使用datos / x 2.0点选并直接测量CT来进行高精度度并可重现的3D测量: CT扫描、重组及分析过程的全自动化执行。

        ▲ 通过VELO / CT在几秒钟或几分钟内(取决於样品体积大小)完成更快速的3D-CT重组影像

  • 极为精简的扫描系统,非常适用於小型实验室使用。 



  • 3D電腦斷層掃描

    材料科學

    nanoCT可以将图层面板逐层显示玻璃纤维复合材料的nano-CT ®∶纤维毡(蓝色)的纤维方向和基质树脂(橙色)会清楚显示出来
     

    感應器學和電氣工程

     

    測量

    利用3D检视焊接接点内部的空隙间隙分布清晰可见对气缸盖3个装置的CAD差异分析和测量
     

    塑料工程

     

    地質/生物科學

    玻璃纤维增强塑料样品的nano-CT ®∶ 玻璃纤维和矿物填料(紫色)的凝聚体的排列和分布都清晰可见。纤维大约有10um宽高分辨率电脑断层扫描(micro-ct 与nano-ct)广泛用於检测地质样品
    設備規格

     

    最大管電壓

    180 kV

    最大功率

    15 W

    細節檢測能力

    高達200nm (0.2µm)

    最小焦物距

    0.4um

    最大3D像素分辨率

    < 500nm (0.5&micro;m)

    幾何放大倍率(3D)

    1.5 倍到100 倍

    最大目標尺寸(高x 直徑)

    150mm x 240mm/ 5.9" x 6.4"

    最大樣品重量

    2 kg/ 4.4 lb

    圖像鏈

    500萬畫素平板數位檢測器陣列

    2D X射線成像

    不可

    3D電腦斷層掃描

    可以

    先進的表面提取

    可以(可選)

    CAD 比較+ 尺寸測量

    可以(可選)

    系統尺寸

    (1640 x 1430 x 750 mm), (64.6&rdquo; x 56.3&rdquo; x 29.5&rdquo;)

    系統重量

    1300kg/ 2866 lb

    輻射安全

    - 全防輻射安全機櫃,依據德國ROV和美國性能標準

    21 CFR 1020.40 (機櫃X-Ray系統)。

    - 輻射洩漏率:從機台壁的10cm處測量 <1.0&micro;Sv/h。



地質/生物科學
高分辨率電腦斷層掃描(micro-ct 與nano-ct)廣泛用於檢測地質樣品,例如:新資源的探索。高分辨率CT-系統以微觀高解析提供岩石樣品、粘合劑、膠合劑和空洞的3D圖像,並幫助分辨特定的樣品特徵,如含油岩石中空洞的大小和位置。
塑料工程
在塑料工程中,高分辨率的X射線技術用於通過探測縮孔、水泡、焊接線和裂縫並分析缺陷來優化鑄造和噴塗過程。 X射線計算機斷層掃描(micro ct 與nano ct)提供具有以下物體特點的3D圖像:如晶粒流模式和填料分佈,以及低對比度缺陷。
玻璃纖維增強塑料樣品的nano-CT &reg;: 玻璃纖維和礦物填料(紫色)的凝聚體的排列和分佈都清晰可見。纖維大約有10um寬。
測量
用X射線進行的3D測量是唯一的可對複雜物體內部進行無損測量的技術。通過與傳統式觸覺坐標測量技術的比較,對一個物體進行電腦斷層掃描的同時可獲得所有的曲點: 包括所有無法使用其他測量方法無損害進入的隱蔽形體,如底切。 v/tome/xs 有一個特殊的3D測量包,其中包含空間測量所需的所有工具,從校準儀器到表面提取模組,具有可能的最大精度,可再現且具親和力. 除了2D壁厚測量外,CT數據可以快速方便地與CAD數據進行比較,例如,分析完成元件,以確保其符合所有的規定尺寸。
對氣缸蓋3個裝置的CAD差異分析和測量。
感應器學和電氣工程
在感應器和電子組件的檢測中,高分辨率X射線技術主要用於檢測和評估接觸點、接頭、箱子、絕緣子和裝配情況。甚至可以檢測半導體元件和電子設備(焊點),而無需拆卸設備。
Nano-CT &reg;顯示CSP組件的焊接接點。焊接接點的3D形狀,約直徑400um,空隙間隙分佈清晰可見。焊接接點內部,不同的共晶焊料相是可見的。
材料科學
高分辨率電腦斷層掃描(micro-ct 與nano-ct)用於檢測材料、複合材料、燒結材料和陶瓷,但也可應用於地質或生物樣品進行分析。材料分配、空隙率和裂縫在微觀上是3D可視的。
玻璃纖維複合材料的nano-CT &reg;:纖維氈(藍色)的纖維方向和基質樹脂(橙色)會清楚顯示出來。圖片右邊: 樹脂內的空洞會以暗體出現。左邊: 樹脂已淡出,以更好地使纖維氈可視化。氈內的單跟纖維是可見的。
3D電腦斷層掃描
工業X射線3D電腦斷層掃描(micro-ct 與nano-ct) 的標準應用是對金屬和塑料鑄件的檢測及3D測量。phoenix| X射線的高分辨率X射線技術開闢了在眾多領域的新應用,如傳感器技術、電子、材料科學以及許多其他自然科學。
SMD感應器的nanoCT&reg;, 尺寸0805 (2.0 mmx 1.2 mm). 三維X射線圖像顯示了後蓋後的內部線圈。在任何常規的X光片中,圖層面板都是重疊的,但nanoCT &reg;成功地將對象逐層顯示。
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