梅特勒托利多XS105DU双量程电子分析天平
梅特勒托利多XS105DU双量程电子分析天平

¥3.6万

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梅特勒托利多

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XS105DU

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欧洲

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核心参数
产品特点:
供应瑞士梅特勒XS105DU/XS205DU优质双量程分析天平,梅特勒XS105DU双量程分析天平,量程41g/120g,精度0.01mg/0.1mg
技术参数:

量程 双量程
可读性 0.01/0.1mg
最大称量值 41/120g
最大称量值重复性(s) 0.1mg
10g重复性(s) 0.02mg
线性 ±0.2mg
   
灵敏度漂移 0.0004%
灵敏度温度漂移2) 0.00015%/℃
灵敏度稳定性3) 0.0002%/a
典型称量时间4) 6s
接口更新速率 23/s
防风罩有效高度(mm) 235
秤盘尺寸(mm) 78×73
天平外形尺寸(W×D×H)(mm) 263×453×322
1)按照OIML76标准2)温度范围10 …30℃3)灵敏度漂洗/年(天平首次使用后),激活FACT全自动校准技术4)包括样品处理时间设置
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