热电性能测定装置ZEM系列
热电材料的Seebeck系数/电热导率的测定
本装置可对热电材料的电导率（Seebeck系数）和电热导率。同时进 行测量。操作简单温度范
围为80℃～1000℃。
用途：
半导体材料，陶瓷材料，金属材料及其他材料的热电性能测定。
特点：
由高精度，高灵敏度温度可 控的红外线金面反射炉和控制温度用的微型加热源构成。
试 样与引线的接触是否正常V-1装置可以自动检出。
技术指标：
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温度范围 |
① -80 ～ 100 ℃ ② 50 ～800 ℃
③50 ～ 1000 ℃ |
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温度设定范围 |
温度段及温差段 最大125段 |
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试样尺寸 |
φ2～4mm， 角×5～22mm |
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测定气氛 |
低 压He气 体中 （大 气中） |
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