AGILENT电路板控制阻抗测量系统

●简单而精准地测量电路板铜轨或高频线路的控制阻抗。

●内建S参数测试(选配功能)。

●高速数位通讯的传输线路，如连接器与印刷电路板，都须要精确控制可能影响现今快速信号完整性的阻抗，新标准如PCI-Express及Serial ATA，都要求精准地测量阻抗之特性与S参数。使用Agilent电路板控制阻抗测量系统，可满足这些需求。

●TDR测量为得到信号完整性之关键：

TDR主机搭配差动TDR模组的强力组合，数年来，皆提供电路板控制阻抗系统卓越的TDR测量解决方案。而在呼应近来高速数位串行接口的大幅需求之际，TDR测量功能也同时明显强化，能轻松得到精准的结果。

●新型态设定选单简单明了、容易使用：设定选单为图式操作接口，即使是新手，也能凭直觉轻松操作。

●TDR校正是修正结果的最快方式：本系统的TDR校正方式，在采用短路与负载参考装置的数位滤波技术之下，建立了一个校正平面，可排除系统误差，提供精准的测量结果。

●完整的单端及差动测试：本系统的差动TDR解决方案采重叠法，以获得所有需要的S参数，含返回损耗、衰减与串音，并报告单端、差动或共模结果。

●TDR步阶脉冲的品质，是阻抗测试之关键：源于TDR校正的数位滤波，可让使用者模拟不同的步阶脉冲速度，以验证及观察在实际的信号脉冲速度之下的阻抗。此外，一个以快至10ps步阶所作的模拟，可与TDR校正一起显示，而为小型高速的装置，带来精准的阻抗测量结果。

●系统规格：

测量范围：0～500Ω(单端)，0～1000Ω(差动)。

测量精度：+/-0.5%@50Ω。

测试长度：5mm~10m@3mm分辨率(FR4)。

水平轴显示分辨率：0.1ps或0.02mm(0.0008")@最小2ps/div刻度。

垂直轴显示分辨率：0.01Ω。

TDR步阶上升时间范围：20ps～1ns可调整