TX 2000 TXRF/EDXRF二合一X射线荧光光谱
TX 2000 TXRF/EDXRF二合一X射线荧光光谱

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TX 2000

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欧洲

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核心参数
 
• 全反射和传统的电磁辐射激发X荧光分析二合一
• 可进行全反射能量色散X射线荧光分析
• 独特的光路设计可大幅度降低噪音干扰
• 仅需使用5~100微升样品
• 12个样品全自动全反射X荧光分析
• 可分析纳米级薄膜
• 操作简便的单内标定量分析
• 所有元素ppt/pg级检测限
• 操作简便,样品分析无需化学预处理
• 无记忆效应
 
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