工作原理: 其它
使用状态: 地面
看了高光谱仪/高光谱成像仪的用户又看了
ET100 可测量6个波段范围的总反射比, 可取代已经停产的经典红外反射率测定计Gier Dunkle DB 100,并在性能和保养性方面都更优越。
特点:
测量2个入射角、 1.0~21 微米之间6个非连续波段的反射系数
NIST标准
快速、便携
电池操作非常方便
测量标准和60度入射角的定向热发射比
计算半球热发射比
ET100:
软件操作简便
强大的测量和数据处理功能
触摸屏PDA操作界面
可同时提供十种设备运行信息
性能
ET100可以测量6个波段的总反射比,波段的反射比可以转换为光谱信息。使用黑体函数,20度和60度角来计算定向发射比。基于计算的定向反射比来推算半球总反射比。
进行测量时,将仪器对准测量面,压动扳机记录数据。测量一次的时间需要几秒钟。
技术参数:
测量参数: 定向半球反射比 (DHR) 方法: 一个波段的积分总反射比 测量值: 定向热发射比 波段: 1.5-2.0, 2-3, 3-4, 4-5, 5-10, 10-21 入射角:20°& 60°法线入射 精 度:±1.5% 表面弯曲: 任何表面,6”半径凸面,12”半径凹面 测量时间: 10秒/测量,用户可设(6 波段) 预热时间:90秒 运行时间: 电池工作2小时,可更换电池后接续测量 电源:可充电镍氢电池 |
充电时间: 1小时 重量:4.7 lbs.带电池 IR源: 铬铝钴合金灯丝,使用温度:1,000°C 尺寸: 手持式,H 11.54”, L 9.04”, W 3.72” 模块部件: 模块化设计,测量头可更换 操作界面: LCD 图形界面,触摸屏,软件按钮 测量: 测量数据直接在屏幕上显示并存储 数据存储:265MB CF卡 数据格式: Excel或Text格式打开 环境: 储存: -25~70°C; 操作环境 0~40°C, 非冷凝 |
保修期: 1年
是否可延长保修期: 否
现场技术咨询: 无
免费培训: 1人次技术培训
免费仪器保养: 1年一次
保内维修承诺: 免费解疑产品使用中的问题
报修承诺: 工作时间回复
SOC高光谱仪ET 100的工作原理介绍
高光谱仪ET 100的使用方法?
SOCET 100多少钱一台?
高光谱仪ET 100可以检测什么?
高光谱仪ET 100使用的注意事项?
SOCET 100的说明书有吗?
SOC高光谱仪ET 100的操作规程有吗?
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