仪器结构： 单光束
接收器类： 光电倍增管（PMT）
波长范围： 紫外可见近红外(190-2600nm)
自动程度： 手动波长
波长范围： 190nm-780nm
光谱带宽： <7nm
波长准确度： ± 1 nm
杂散光(S.L.)： <0.05%
概述
镜质体反射率测量在钢铁工业用于媒质的测评是一个有用的工具。岩相分析在煤质成因、变质和利用的背景下已得到国际的重视。煤岩相学国际委员会（ICCP）提出了一些善于有关术语和分析方法的建议。在ISO/DIN 规范 7404和ASTM D2798中，显微镜的准备被描述为测量过程和数据处理与反射比较的标准。通过耦合一个高灵敏度的光谱仪到显微镜检测荧光光谱，其它标准如热蚀变指数（TAI）或孢子的颜色索引（SPI）可用于额外的更加详细的分析。J&M公司仪器使得这些类型的分析在日常操作中容易化。
TIDAS MSP 200
TIDAS MSP 200仪器的开发是根据岩石学和地球化学的具体需求进行研发的。根据仪器的选择配置，你可以做各种样品的的反射、荧光或偏振分析。J＆M MSP200是根据在工作分析模式下数据采集过程的DIN/ ISO标准运行的。最后以直方图显示结果在定量的列和相对比例中。J＆M的MSP200系统用于钢铁生产，世界各地的岩石或地球化学实验室中。
MSP 200 连接到不同制造商的显微镜
软件和辅助程序
使用 J＆M 公司MSP 200 软件（WIN XP / Vista），你可以控制的整个系统，调整测量参数和校准仪器。根据最小/最大-方法可得到单一的值或你可运行它。数据可被存储达10个不同的通道。此外，该软件允许各种柱状图或表格中显示的结果。打印或导出结果到其它程序如Excel或其他的也是可行的。最后，对于系统的校准，J&M提供了不同反射值（尖晶石，蓝宝石，YAG，GGG，氧化锆，钛酸锶）的校准标准。
软件 MSP 200
柱状图
煤样品图片与测量点
视频成像
使用J&M公司的TidasVISION软件，可实现在线视频影像和数据的同步采集。可灵活调节的测量膜片标记你感兴趣的样本图像区域。
应用
- 通过镜质体和丝质体反射确定煤的等级
- 表面荧光技术中沥青煤的特性
- 煤油的分析
- 在多成分检测中确定百分比
- 非结晶物质的评估，在古生物观察中的藻类和部分植物
- 在沥青煤和无烟煤中测定煤岩体的组成
分光光度计参数规格表：
波长范围 | 190 - 720 nm |
光谱分辨率 | < 7 nm |
波长精度 | ± 1 nm |
± 10 mAU | |
光度计精度 VIS | ± 10 mAU |
波长可重复性 | < 0,1 nm |
二极管个数 | 256 |
尺寸 | 345 x 145 x 315 mm (W x H x D) |
重量 | 8 kg |
电压 | 85 - 265 VAC / 47 - 63 Hz |
输入/输出 | 标准: 2 x 输入 / 2 x 输出 显微镜光谱: 4 x 输入 / 8 x 输出 |
照明 | 2 白色 LED, SMA 905 |
光纤连接器 | SMA 905 |
A/D 转换 | 16 位 |
序号 | 81 660 11 |
| 用户单位 | 采购时间 |
|---|---|
| 中国矿业大学 | 2016-12-08 |
德国 JUST LED标准光源
型号：Classic Line 2.3万
显微光度计
型号：TIDAS S 400 50万 - 100万
J&M TIDAS MSP 800显微分光光度计
型号：TIDAS S 800 11万
GL Spectis 8.0高灵敏度光谱分析仪
型号：GL SPECTIS 8.0 23万山西平朔矿9#煤为研究对象，利用电感耦合等离子质谱测定煤中镉、铬和铊有害微量元素的含量。利用suffer 软件生成镉、铬和铊元素在矿区中的平面分布图。结果表明平朔矿区9#煤中的镉、铬和铊含量的平均值分别为0． 15 μg /g、17． 39 μg /g 和0． 12 μg /g，其中镉和铊低于华北煤、全国煤和美国煤均值; 铬高于华北煤、全国煤和美国煤的均值。EF1分别为0． 75、0． 17和0． 28，EF2分别为2． 8、0． 65 和0． 01。镉、铬和铊赋存在黄铁矿和粘土矿物中。
《文件材料鉴定规范》是由系列规范构成，下面列出了这些规范的预计结构。 ——第1部分：纸张鉴定； ——第2部分：墨水鉴定； ——第3部分：油墨鉴定； ——第4部分：墨粉鉴定； ——第5部分：粘合剂鉴定。 本规范由司法部司法鉴定科学技术研究所提出。 本规范由司法部司法鉴定科学技术研究所负责起草。 本规范主要起草人：徐彻、杨旭、施少培、凌敬昆、罗仪文、奚建华、卞新伟、孙维龙、陈晓红。
有机发光二极管（OLED）正在开发的下一代显示器和光源。TIDAS J&M MSP400/800显微分光光度计在OLED/TFT/LED研究领域中广泛，目的是衡量和比较的光谱输出，每个常用的OLED器件的微观像素的亮度和颜色的一致性。
对光很方便，关键是完美结合我们的显微镜和荧光光源，成为一套完整的系统，非常感谢。