主要特点：
机构稳定可靠，成像清晰，操作简便，光学系统优良。广泛应用于各类半导体硅晶片检测，材料研究，地质矿物分析，以及精密工程等学科领域。
技术参数：
光学系统：平场消色差光学系统
平场消色差金相物镜：5X、10X、50X、100X（选配）
高眼点平场目镜： PL10X/18mm
观察筒： 旋转铰链式双目（三目），30°斜筒， 360°旋转
照明系统:：落射式柯拉照明，90V-240V自适应式宽电压，卤素灯6V30W，灯丝中心可调，亮度连续可调
调焦机构:：粗微动同轴，带有粗调松紧调节装置和随机限位装置；粗动行程22mm，微动精度：0.002mm
转换器：内定位四孔转换器
载物台:：140X132mm，双层同轴机械移动，附180X145mm平板平台
滤色片：蓝色滤色片
摄像接口：1/2X或1X CTV接口
