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应用：
Material Science
Semiconductor—Ingots/Wafer/Packaging/PCBs/LEDs/Sensor/Other MEMS
Aerospace
Automotive
Pharma & Biotech
技术参数：
德国KSI提供了最新的第二代超声波扫描（SAM）, 公司拥有强大的设计应用团队，在超声波领域超过20年的经验。
其设备主要是针对半导体器件 ，芯片，材料内部的失效分析。其可以检查到材料内部的晶格结构，杂质颗粒，
夹杂物，沉淀物， 内部裂纹，分层缺陷，空洞，气泡及空隙等.
主要特点：
非破坏性、无损伤检测内部结构；
可分层扫描、多层扫描；
实施、直观的图像及分析；
缺陷的测量及百分比的计算；
可显示材料内部的三维图像；
对人体是没有伤害的；
可检测各种缺陷（裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞、晶界边界等）
