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特性阻抗|特性阻抗测试仪用途：
特性阻抗测试系统是采用时域反射技术设计的，能够批量化、自动化、快速、准确测试PCB迹线的特性阻抗，并提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印等功能。适用于电路板制造厂商的研发、设计、生产及品管单位。为高频线路板特性阻抗测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。
特性阻抗|特性阻抗测试仪特征：
1、批量化、自动化测试，操作简单、测试快捷，适合PCB工厂快速测试。
2、Windows操作环境，友好的人机界面，自动出具测试结果。
3、提供单端和差分阻抗测试。
4、支持2通道、4通道及8通道测试。
5、快速定制测试任务及批量化、自动化测试功能。
6、集成测试文件编辑器，快速设置测试参数。
7、自动记录测试数据，生成报表并保存在磁盘上。
8、显示测试波形、统计数据分析及测试结果。
9、打印测试报表、波形及测试结果。
10、符合IPC-TM-650和IPC2141标准。
特性阻抗|特性阻抗测试仪技术参数：
项目 | 规格 |
控制阻抗测试范围 | 20-150Ω |
测量精度 | 50Ω±1% |
测量长度 | 最大2m，最小0.09m |
水平显示分辨率 | 0.2mm |
垂直显示分辨率 | 0.05Ω |
测试方法 | 时域反射法（TDR） |
电子/电气 2014-08-15
电子/电气 2014-08-15
| 用户单位 | 采购时间 |
|---|---|
| 暂不提供 | 2014-05-15 |
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