X-Ray能谱仪

仪器简介：

完整的X 射线荧光系统包括
• XR-100CR X 射线探测器
• PX4(English)数字脉冲处理器、多孔道分析仪和电源
• Mini-X USB 控制的X 射线管
• XRF-FP(English)定量分析软件
• MP1 (English)X 射线荧光装配平台

技术参数：

• 136 eV FWHM Resolution @ 5.9 keV
• 9.6 μs Peaking Time
• 100,000 CPS
• Peak-to-Background Ratio - 7000:1
• 在 5.9 keV 峰处分辨率可达136 eV 半峰宽(FWHM)
• 峰化时间(Peaking Time)9.6 μs
• 计数率 100,000 CPS
• 峰强:背噪 (P/B) 比达7000:1

主要特点：

• 7 mm2 X 450 μm
• No Liquid Nitrogen
• 高计数率：500,000 CPS
• 在 5.9 keV 峰处分辨率可达136 eV 半峰宽 (FWHM)
• 高峰强:背噪 (P/B) 比:7000:1
• 7 mm2 × 450 μm
• 无需液氮 
• X 射线荧光分析
• 符合 RoHS/WEEE 标准的XRF
• OEM 及特殊用途
• 程控
• 研发