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PECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统,集准直、聚焦、样品激发于一体,是功能强大的金属分析仪SPECTRO MIDEX 适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。样品室配有易于调节的样品台。通过20倍变焦摄像机可精确地确定测量位置。仪器配有计算机和专业化的软件,使操作极为简便。测量点直径为0.7mm,样品的总测量时间不超过100秒。在测定稀有金属合金中的金含量时,样品的测量精度为0.15%。SPECTRO MIDEX 也可满足快速分析的需要,在2分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析。
检测器
- Peltier 冷却的Si 漂移检测器:
Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2
- 以Mn Kα线,在测量计数率为
10,000脉冲计数时, 能量分辨率:FWHM< 160 eV
- 微处理器控制的检测器和读出电路
- 脉冲计数率可达250,000 cps
1.附带FP实际金属、贵金属、RoHS分析、无卤化塑胶回归的检测曲线,集多种应用于一身。该曲线采用大量金属及贵金属标准样品绘制,代表性强,实用性强,准确度高。分析数据可同时显示K金值及含量。
2.采用高分辨,高计数率,电制冷的SDD检测器,实际分辨率160eV,计数率高达250,000cps,非常适合高含量样品的分析。该计数器具有先进性及维护简单,无需繁琐而危险的液氮添加过程。
3.激光配合CCD摄像机双定位,样品分析点可视,可调。定位精度高。分析点的照片可截屏,出具报告时可以粘贴在报告中。
4.分析速度快,可在180秒内完成各类样品的分析任务
5.可选配狭缝交换器,测试点的尺寸可调,由0.2毫米至3.3毫米。可同时分析同一样品的各个部分,一般分析点的尺寸为1毫米。
6.可选配XYZ微米级精度全自动样品台,完成点,线,面扫描。一次测量过程可同时分别完成多个样品的分析。
7.超大样品室,可完成超大样品的分析,样品的尺寸可以达到300*200*150mm(长*宽*高)。同时可完成超小样品1mm样品的分析
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