GL-CST-50冲击试样缺口投影仪

GL-CST-50型冲击试样缺口投影仪是我们根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T229-2007《金属夏比摆锤冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口轮廓放大投射到投影屏上，与投影屏上冲击试样V和U型缺口标准样板图比对，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，其优点是操作简便，检查对比直观，效率高。

1、 投影屏直径 ：180mm
2、工作台尺寸 ：
方工作台尺寸：110×125mm
方工作台直径：90mm
工作台玻璃直径：70mm
3、工作台行程 ：
纵向：±10mm
横向：±10mm
升降：±12mm
4、工作台转动范围: 0～360°
5、仪器放大倍率：50X
物镜放大倍率： 2.5X
投影物镜放大倍率：20x
6、光源（卤钨灯）：12V 100W
7、电源： 220V 50Hz
8、外形尺寸：515×224×603mm
9、重量： 20kg

1.GL-CST-50投影仪主机 一台
2.底座调整钮 四个
3.电源线 一根
4.卤钨灯 二个
5.平板玻璃 一块