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GL-CST-50型冲击试样缺口投影仪是我们根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T229-2007《金属夏比摆锤冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器,该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口轮廓放大投射到投影屏上,与投影屏上冲击试样V和U型缺口标准样板图比对,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格,其优点是操作简便,检查对比直观,效率高。
1、 投影屏直径 :180mm
2、工作台尺寸 :
方工作台尺寸:110×125mm
方工作台直径:90mm
工作台玻璃直径:70mm
3、工作台行程 :
纵向:±10mm
横向:±10mm
升降:±12mm
4、工作台转动范围: 0~360°
5、仪器放大倍率:50X
物镜放大倍率: 2.5X
投影物镜放大倍率:20x
6、光源(卤钨灯):12V 100W
7、电源: 220V 50Hz
8、外形尺寸:515×224×603mm
9、重量: 20kg
1.GL-CST-50投影仪主机 一台
2.底座调整钮 四个
3.电源线 一根
4.卤钨灯 二个
5.平板玻璃 一块
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