有机硅涂层含量测试仪
有机硅涂层含量测试仪

面议

暂无评分

暂无样本

ASOMA PII

--

美洲

该产品已下架
核心参数
仪器简介:

PII有X射线源、偏振移动次级靶和封气正比计数器组成,显著提高了轻元素如:Mg、Al、Si、P、S、Cl的分析能力,全新设计的正比计数器计数率高,滤光片系统可将原子序数相近元素的谱峰分离开。采用内置式计算机,无需配备外部计算机。PII无需外部鼠标和键盘,具备USB,VGA,以太网接口便于连接到网络或外部设备,是一款独特的高性能偏振X射线荧光光谱仪,操作简单、价格合理、样品处理能力强。



技术参数:

1 48KV X射线管

2 采用HOPG偏振X射线源,适合测定轻元素

3 采用移动式次级靶,适合测定重元素

4 带滤光片的正比计数器

5 内置触屏式计算机

6 Windows操作系统

7 网络通讯接口

8 一键式操作,简便快捷

9 性能价格比高

用户评论
暂无评论
有机硅涂层含量测试仪信息由上海云烨电子科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于有机硅涂层含量测试仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
移动端

仪器信息网App

返回顶部
仪器对比

最多添加5台