本图片来自北京维泰凯信新技术有限公司提供的薄膜测厚仪,型号为NanoMap-WLS的阿尔派物性测试仪器及设备,产地为美洲美国,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的Er掺杂光纤激光器、XRSIM等仪器。
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