膜厚测量仪测试仪,薄膜测量仪图片
本图片来自上海麦科威半导体技术有限公司提供的膜厚测量仪测试仪,薄膜测量仪，型号为UVS-1100的StellarNet光学仪器及设备，产地为美洲美国，属于品牌，参考价格为14万 - 20万，公司还可为用户供应高品质的石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统、原子层沉积系统,粉末原子层沉积ALD等仪器。
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