本图片来自上海麦科威半导体技术有限公司提供的Bruker布鲁克台阶仪Dektak XTL,型号为Dektak XTL的布鲁克测量仪器,产地为美洲美国,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统、LatticeGear 精密定点划片系统 LatticeGearAx 420等仪器。
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