扫描型开尔文探针 功函数测试图片
本图片来自上海麦科威半导体技术有限公司提供的扫描型开尔文探针 功函数测试，型号为KP50501的英国KP物性测试仪器及设备，产地为欧洲英国，属于品牌，参考价格为面议，公司还可为用户供应高品质的 Q300T，Q150T –三靶溅射镀膜仪，离子溅射镀膜仪、Axic反应离子刻蚀RIE，等离子增强化学气相沉积PECVD等仪器。
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