本图片来自秉创科技(无锡)有限公司提供的薄膜厚度测量仪F40,型号为F40的美商菲乐半导体行业专用仪器设备,产地为美洲美国,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的布鲁克X射线衍射仪XRD-D8 ADVANCE、布鲁克纳米红外光谱仪Anasys nanoIR3等仪器。
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