本图片来自深圳市中图仪器股份有限公司提供的WD4000半导体晶圆厚度翘曲度测量系统,型号为485的中图仪器半导体行业专用仪器设备,产地为中国大陆广东,属于品牌,参考价格为300万,公司还可为用户供应高品质的一米激光测长机、激光共聚焦成像显微镜等仪器。
深圳市中图仪器股份有限公司是仪器信息网的金牌,合作关系长达1年,工商信息已通过人工核验,获得仪信通诚信认证,
中图仪器客服电话:400-860-5168转6117,请放心选择!
查看 WD4000半导体晶圆厚度翘曲度测量系统 信息
同类推荐
看了关键尺寸测量设备的用户又看了
SJ6000设备直线度激光干涉测量仪
光学3D表面轮廓仪,白光干涉仪,光学轮廓仪
激光干涉仪,SJ6000激光干涉仪
轮廓测量仪,中图仪器轮廓测量仪
螺纹综合测量机,螺纹综合测量仪
测长机,卧式测长仪,光栅测长机
指示表检定仪,百分表检定仪
闪测仪,二次元影像测量仪,VX3000闪测仪
光学影像坐标测量仪
2.5次元测量影像仪
中图仪器共聚焦显微镜
Novator系列二次元自动影像测量仪
国产三坐标测量机
光学全自动影像测量仪
移动桥架三坐标测量机
CHOTEST中图仪器激光测长机测长仪SJ5180
中图仪器chotest白光干涉三维轮廓仪 W系列
一键快速影像测量仪
中图激光干涉仪sj6000
中图全自主三坐标测量机
超高精度光学镜片检测仪
光学曲面测量仪
长度激光测量仪
全自动精密测长机
高精度激光测距仪
一键图像尺寸测量仪
高精度快速图像尺寸测量仪
GTS中图仪器3坐标检测仪
二次元影像检测仪
轮廓粗糙度一体式测量仪
超显微压痕硬度计
WD4000半导体晶圆厚度翘曲度测量系统
全自动薄膜质量控制
超声扫描显微镜
全自动超声波扫描显微镜
超声波扫描显微镜
半导体无图晶圆Wafer厚度测量系统
半导体晶圆多维度几何形貌特征检测设备
半导体晶圆厚度高精度测量系统
WD4000半导体晶圆微观形貌测量系统
无图晶圆膜厚检测设备
晶圆厚度表面粗糙度微纳三维形貌量测系统
无图晶圆表面形貌粗糙度2D3D检测机
Sentronics全自动晶圆厚度系统、翘曲度测量仪
便携式钢尺水位计水位测量器液位测量仪30米50米测量井地下水位
荷兰TeraNova光栅尺寸测量仪
Sentronics全自动晶圆厚度系统、翘曲度测量系统
Sentronics 晶圆厚度系统、翘曲度测量系统
德国Sentronics晶圆厚度TTV、翘曲Bow/Warp测量系统