本图片来自北京卓立汉光仪器有限公司提供的宽场荧光显微成像模组,型号为晶圆缺陷检测的卓立汉光半导体行业专用仪器设备,产地为中国大陆北京,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的日本西格玛角锥棱镜、平凹透镜等仪器。
北京卓立汉光仪器有限公司是仪器信息网的白金,合作关系长达16年,工商信息已通过人工核验,获得仪信通诚信认证,请放心选择!
查看 宽场荧光显微成像模组 信息
同类推荐
看了晶圆缺陷光学检测设备的用户又看了
超高真空光学显微镜/光谱仪测试系统
全晶圆半导体参数非接触测试解决方案
定制化原位显微光学/光谱学测试系统
RTS-SEMR 拉曼电镜联用光谱系统
4K光学低温恒温器
fluoroSENS稳态荧光光谱仪
全光谱可调单色光源
阻尼隔振光学平台
二维组合平移台
二维组合平移台
精密电控平移台
标准型(精密型)电控平移台
重载型电控平移台
超薄型电控平移台
LED-COB模组测试系统
精密电控平移台PSAxxx-113P-X系列
精密电控平移台PSAxxx-11AS-X系列
高精密平移台KSM13(A)-40系列
MK-350便携式光谱仪/LED光谱式照度计
LED 背光源测试系统
电控平移台
平移台
平移台
整体式多轴位移台
轮式八通道多光谱相机 SpectroCAM系列
半导体泵浦全固态激光器——TECH系列
科研级便携式拉曼光谱仪Finder Insight Pro
OmniFluo900系列稳态瞬态荧光光谱仪配件
通用型条纹相机TIMART系列
拉曼
宽场荧光显微成像模组
武昌光谷鲁巷信用刷卡取现代还
晶圆读码器
晶圆校准器
半导体晶圆拉曼光谱测试系统
半导体晶圆PL光谱测试系统
晶圆厚度/非接触电阻率测试仪 MX608
单点晶圆厚度/电阻率测试仪 MX604
荷兰Fastmicro晶圆表面颗粒检测系统
Candela®7100系列缺陷检测和分类系统
Candela®6300系列光学表面分析仪系统
Candela8520表面缺陷检测系统
Candela 8720 表面缺陷检测系统
舜宇SOPTOP晶圆搬送及缺陷检测系统AWL系列
Candela 8420 表面缺陷检测系统
光焱科技新型单光子侦测器特性分析设备SPD2200
ULTRAT - 晶圆、基板、光罩清洗机
全自动晶圆搬运检查系统
自动晶圆缺陷密度检查系统
Park NX-Hybrid WLI
固体检测光源
共聚焦显微镜 表面缺陷检测机
Candela光学表面缺陷检测仪
美国Lumina晶圆表面缺陷检测仪
荷兰Fastmicro晶圆表面颗粒检测仪