晶圆高分辨率厚度和表面形貌测试仪 MX 7012图片
本图片来自瞬渺科技（香港）有限公司提供的晶圆高分辨率厚度和表面形貌测试仪 MX 7012，型号为MX 7012的E+H Metrology半导体行业专用仪器设备，产地为欧洲德国，属于品牌，参考价格为面议，公司还可为用户供应高品质的642 nm光纤激光器、红外连续可调OPO激光器 德国 Qioptiq等仪器。
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