Sentronics全自动晶圆厚度系统、翘曲度测量仪图片
本图片来自微纳（香港）科技有限公司提供的Sentronics全自动晶圆厚度系统、翘曲度测量仪，型号为SemDex A的 Sentronics Metrolo半导体行业专用仪器设备，产地为欧洲德国，属于品牌，参考价格为面议，公司还可为用户供应高品质的德国Osiris AFIXX 30s型半自动临时键合机、CB500型纳米压痕仪等仪器。
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