单点晶圆厚度/电阻率测试仪 MX604图片
本图片来自瞬渺科技（香港）有限公司提供的单点晶圆厚度/电阻率测试仪 MX604，型号为MX 604-ST的E+H Metrology半导体行业专用仪器设备，产地为欧洲德国，属于品牌，参考价格为面议，公司还可为用户供应高品质的AVESTA-、波前传感器 波前测试仪等仪器。
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