膜厚测量仪，薄膜厚度测量仪TohoSpec 3100图片
本图片来自南通宏腾微电子技术有限公司提供的 膜厚测量仪，薄膜厚度测量仪TohoSpec 3100，型号为TohoSpec 3100的Toho半导体行业专用仪器设备，产地为亚洲日本，属于品牌，参考价格为面议，公司还可为用户供应高品质的真空回流焊炉,烧结炉RSS-110、热-紫外纳米压印系统，纳米压印仪等仪器。
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