本图片来自KLA Instruments科磊仪器部提供的Filmetrics F32系列薄膜厚度测量仪,型号为F32系列的KLA物性测试仪器及设备,产地为美洲美国,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的Filmetrics F3-sX薄膜厚度测量仪、Filmetrics® Profilm3D® 光学轮廓仪等仪器。
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