美国Sinton 少子寿命测试仪 BCT-400/BLS-I /WCT-120MX图片
本图片来自南通宏腾微电子技术有限公司提供的 美国Sinton 少子寿命测试仪 BCT-400/BLS-I /WCT-120MX，型号为BCT-400/BLS-I/WCT的Sinton Instruments半导体行业专用仪器设备，产地为美洲美国，属于品牌，参考价格为面议，公司还可为用户供应高品质的 nGauge便携式芯片原子力显微镜AFM、TC Wafer晶圆测温系统,TC Wafer热电偶,晶圆硅片测温热电偶等仪器。
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