Candela8520表面缺陷检测系统图片

本图片来自KLA Instruments科磊仪器部提供的Candela8520表面缺陷检测系统,型号为Candela8520KLA半导体行业专用仪器设备,产地为美洲美国,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的Zeta™-388 光学轮廓仪探针式轮廓仪Tencor® P-170(台阶仪)等仪器。
KLA Instruments科磊仪器部是仪器信息网的白金,合作关系长达1年,工商信息已通过人工核验,获得仪信通诚信认证, KLA客服电话:400-801-5101,请放心选择!

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KLA Instruments科磊仪器部

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白金1年

营业执照已认证
400-801-5101

品牌性质: 生产商
厂商荣誉:

仪器核心参数

产地类别: 进口
仪器类别: 光学图形化缺陷检测设备

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