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美国Sinton少子寿命测试仪WCT-120MX+Suns-VocMX图片

本图片来自南通宏腾微电子技术有限公司提供的美国Sinton少子寿命测试仪WCT-120MX+Suns-VocMX,型号为WCT-120Sinton Instruments半导体行业专用仪器设备,产地为美洲美国,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的日本Toho薄膜应力测试仪FLX-2320-SRaith电子束光刻机EBL 30KeV等仪器。
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南通宏腾微电子技术有限公司

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银牌2年

营业执照已认证

品牌性质: 一般经销商
厂商荣誉:

仪器核心参数

产地类别: 进口
少子寿命测量范围: 100NS
样品尺寸: 210/230MM
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