本图片来自优可测提供的优可测纳米级金属薄膜厚度测量仪,型号为AF-T001的优可测光学仪器及设备,产地为中国大陆广东,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的优可测Atometrics白光干涉仪AM-7000系列-EX230、优可测Atometrics其它测厚仪AF-3000系列T100等仪器。
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