半导体封装测试 饱和加速寿命试验箱图片

本图片来自合肥巨阙电子有限公司提供的半导体封装测试 饱和加速寿命试验箱,型号为J-PCT巨阙电子实验室常用设备,产地为中国大陆安徽,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的快速变温ESS应力筛选试验箱高低温试验箱/可程式恒温恒湿试验箱等仪器。
合肥巨阙电子有限公司是仪器信息网的免费,合作关系长达0年,工商信息已通过人工核验,获得仪信通诚信认证,请放心选择!

查看 半导体封装测试 饱和加速寿命试验箱 信息

合肥巨阙电子有限公司

合肥巨阙电子有限公司

免费0年

营业执照已认证

品牌性质: 一般经销商
厂商荣誉:
推荐专场
同类仪器
该厂商仪器
相关厂商
推荐品牌
最新产品
仪器攻略