Nanolink SZ902 纳米粒度及Zeta电位仪图片

本图片来自珠海真理光学仪器有限公司提供的Nanolink SZ902 纳米粒度及Zeta电位仪,型号为Nanolink SZ902真理光学物性测试仪器及设备,产地为中国大陆广东,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的真理光学LT2100系列激光粒度分析仪LT3600系列激光粒度分析仪等仪器。
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珠海真理光学仪器有限公司

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白金7年

营业执照已认证
400-801-7859

品牌性质: 生产商
厂商荣誉:

仪器核心参数

产地类别: 国产
粒度测量范围: 0.3nm~15μm
粒度测量重现性: 1%
测试温度: -15C° ~120C°
温控精度: ±0.1C°
光信号频率: 6.3×10^14
粒度检测方法: DLS
样品浓度范围: 0.1mg/ml ~ 40%w/v
样品量范围: 最小3μl
Zeta 电位测量范围: 1nm – 120μm
测量时间: 3分钟
分子量测量范围: 340Da - 2x10^11 Da
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