本图片来自杭州光研科技有限公司提供的全自动晶圆缺陷检测系统,型号为GWM的--半导体行业专用仪器设备,产地为中国大陆浙江,属于品牌,参考价格为500万 - 800万,公司还可为用户供应高品质的-、-等仪器。
杭州光研科技有限公司是仪器信息网的免费,合作关系长达0年,工商信息已通过人工核验,获得仪信通诚信认证,
请放心选择!
查看 全自动晶圆缺陷检测系统 信息
同类推荐
看了null的用户又看了
舜宇SOPTOP晶圆搬送及缺陷检测系统AWL系列
宽场荧光显微成像模组
半导体晶圆拉曼光谱测试系统
半导体晶圆PL光谱测试系统
单点晶圆厚度/电阻率测试仪 MX604
晶圆厚度/非接触电阻率测试仪 MX608
自动晶圆缺陷密度检查系统
全自动晶圆搬运检查系统
ULTRAT - 晶圆、基板、光罩清洗机
荷兰Fastmicro晶圆表面颗粒检测系统
明场纳米图形晶圆缺陷检测设备 天准半导体缺陷检测设备
天准DaVinci晶圆缺陷光学检测设备
DaVinci G5天准晶圆前道测量 半导体前道检测
ET200A型
全自动微形状测量机
ET8000型
光焱科技新型单光子侦测器特性分析设备SPD2200
二手晶圆缺陷光学检测7500
二手晶圆缺陷光学检测KLA-Tencor 7600
二手表面缺陷检测设备KLA-Tencor Candela CS10
直线电机雅科贝思直驱系列电机AUM无铁芯系列
ET8000型
全自动微形状测量机
ET200A型
中科微电子 晶圆目检强光灯QG-150/QG-250
天准DaVinci晶圆缺陷光学检测设备
DaVinci G5天准晶圆前道测量 半导体前道检测
明场纳米图形晶圆缺陷检测设备 天准半导体缺陷检测设备
宽场荧光显微成像模组
晶圆读码器
晶圆校准器
半导体晶圆拉曼光谱测试系统
半导体晶圆PL光谱测试系统
晶圆厚度/非接触电阻率测试仪 MX608
单点晶圆厚度/电阻率测试仪 MX604
荷兰Fastmicro晶圆表面颗粒检测系统
Candela®7100系列缺陷检测和分类系统
Candela®6300系列光学表面分析仪系统
Candela8520表面缺陷检测系统
Candela 8720 表面缺陷检测系统
舜宇SOPTOP晶圆搬送及缺陷检测系统AWL系列
Candela 8420 表面缺陷检测系统
光焱科技新型单光子侦测器特性分析设备SPD2200
ULTRAT - 晶圆、基板、光罩清洗机
全自动晶圆搬运检查系统